Server offline

Лаборатория 105. Лаборатория оптики и электрофизики


read moreОбъединеный семинар лаб. 102&105

read moreAtomic force microscopy


Заведующий лабораторией - доктор физико-математических наук, профессор Н.Г. Галкин.
Состав лаборатории

Количество сотрудников - 11,
научных сотрудников - 7,
докторов наук - 1,
кандидатов наук - 2.

Основные направления научных исследований

* Развитие физических основ технологии роста новых материалов на основе кремния и встроенных в кремниевую решетку нанокристаллитов полупроводниковых силицидов.
* Исследование и моделирование оптических, электрических и магнитных свойств материалов с пониженной размерностью на основе кремния.
* Разработка и исследование свойств новых видов полупроводниковых приборов на кремнии с использованием систем пониженной размерности.

Основные результаты

* Изучены процессы эпитаксиального роста пленок полупроводниковых силицидов Cr, Fe и Mg на кремнии, оптические и электрические свойства пленок и параметры их зонной энергетической структуры.
* Изучены процессы проводимости двумерных пленок металлов (Cr, Fe, Yb и Mg) на кремнии в условиях сверхвысокого вакуума.
* Cозданы мультислойные гетероэпитаксиальные кремниевые структуры со встроенными нанокристаллитами полупроводниковых силицидов Fe, Cr Mg и исследованы их оптические и электрические свойства.
Основные публикации

1. Galkin N.G., Velitchko T.V., Skripka S.V., Khrustalev A.B. Semiconducting and structural properties of CrSi2 A-type epitaxial films on Si(111).// Thin Solid Films. 1996. V. 280. P.211-220.
2. Галкин Н.Г., Конченко А.В, Полярный В.О. и др. Оптические и фотоэлектрические свойства наноструктур с захороненными кластерами из полупроводниковых силицидов на кремнии в видимом и ближнем ИК диапазонах // "Изв. Акад. наук. Сер. Физ., том 67 (2003) с. 155-158.
3. Galkin N.G., Goroshko D.L., Dotsenko S.A., and Louchaninov I.V., "Influence of Si(111) 3x 3/30o-Cr surface phase on the formation and conductivity of Fe and Yb monolayers at room temperature" // Thin Solid Films V. 464-465 (2004) 18-22.

Атомно-силовая микроскопия

Программа обработки изображений АСМ и управления микроскопом производства NT-MDT
Nova_v1.0.26.1199

Руководство пользователя программы Nova
Nova manual

Специализированная программа обработки изображений Image Analysis 3.5
Image Analysis 3.5

Специализированная программа обработки изображений Image Analysis 3.5
Image Analysis 3.5 manual

Программа для обработки изображений сканирующей зондовой микроскопии Spip 5.0.7
Spip_v.5.0.7